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產(chǎn)品展示
注重品質(zhì)細(xì)節(jié)，對(duì)每一道生產(chǎn)工序負(fù)責(zé)，對(duì)每一位用戶(hù)負(fù)責(zé)

  • 阻抗-MT2000混合信號(hào)有源負(fù)載牽

    射頻探針,MT1000和MT2000混合信號(hào)有源負(fù)載牽引系統(tǒng)是經(jīng)過(guò)商業(yè)驗(yàn)證的最佳解決方案，能夠在高達(dá)每分鐘1000阻抗/功率狀態(tài)的高速下執(zhí)行負(fù)載牽引，在以下條件下不限制史密斯圓圖覆蓋范圍：$n...

  • GP200-8英寸手動(dòng)探針臺(tái)

    GP200包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。提供專(zhuān)業(yè)的測(cè)試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。

  • 8英寸高低溫探針臺(tái)

    GP200SE 8英寸高低溫探針臺(tái)包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。提供專(zhuān)業(yè)的測(cè)試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。GP200SE擁有穩(wěn)定且可靠...

  • 硅光探針臺(tái)

    硅光探針臺(tái),GP200-SIP系列8英寸探針臺(tái)包含硅光芯片的DC&RF&OO測(cè)試所需的完整配置，在短時(shí)間內(nèi)可準(zhǔn)確地完成芯片的參數(shù)測(cè)試與提取。GP200擁有穩(wěn)定且可靠的測(cè)試平臺(tái)，保證測(cè)試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)...

  • GP半自動(dòng)探針臺(tái)

    GP半自動(dòng)探針臺(tái)，GP2000-SE 高低溫探針臺(tái)。機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測(cè)量，提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測(cè)試系統(tǒng)方案?？蓱?yīng)用于I-V/C-V/P-IV測(cè)試、1/f噪聲測(cè)試、射頻/毫米...

  • GP300探針臺(tái)

    大功率探針臺(tái),GP300探針臺(tái)讓您的芯片測(cè)試更加簡(jiǎn)單，機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測(cè)量，提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測(cè)試系統(tǒng)方案。

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南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司，專(zhuān)業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級(jí)測(cè)試及芯片檢測(cè)等系統(tǒng)集成平臺(tái)。公司致力為客戶(hù)提供半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備國(guó)產(chǎn)化改造，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺(tái)服務(wù)。公司的目標(biāo)是成為國(guó)內(nèi)晶圓級(jí)在片測(cè)試，器件測(cè)量系統(tǒng)軟件、硬件的先進(jìn)供應(yīng)商，以滿(mǎn)足國(guó)內(nèi)用戶(hù)需求，開(kāi)發(fā)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。南京芯測(cè)的在專(zhuān)注于在片測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷(xiāo)與晶圓在片測(cè)試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括：手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)、硅光探針臺(tái)、射頻探針臺(tái)、高低溫探針臺(tái)、除此之外涉及經(jīng)銷(xiāo)芯片ESD測(cè)試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測(cè)設(shè)備等...
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從基本認(rèn)識(shí)芯片ESD測(cè)試設(shè)備的相關(guān)介紹

頭條從基本認(rèn)識(shí)芯片ESD測(cè)試設(shè)備的相關(guān)介紹2024-11-11

隨著電子設(shè)備的不斷發(fā)展，集成電路（IC）在現(xiàn)代電子產(chǎn)品中的重要性日益增強(qiáng)。然而，靜電放電（ESD）對(duì)芯片的危害依然是設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中必須嚴(yán)肅對(duì)待的難題。靜電放電不僅會(huì)導(dǎo)致...